Стоимость типовых услуг
Перечень исследовательских услуг,
реализуемых Региональным центром нанотехнологий при Юго-Западном государственном университете
|
№ |
Наименование услуги |
Научное оборудование, год выпуска |
Стоимость услуги, руб/образец |
Стоимость услуги, руб/час |
|
1 |
Рентгенофазовый анализ порошковых материалов (база данных ICDD PDF-2 с лицензией на 5 лет) при н.у. |
EMMA, 2012 |
1500 |
500 |
|
2 |
Рентгенофазовый анализ порошковых материалов (база данных ICDD PDF-2 с лицензией на 5 лет) с использованием высокотемпературной ячейки до 1600°С |
EMMA, Anton Paar,2012 |
3000 |
1000 |
|
3 |
Анализ поверхности органических и неорганических материалов методом малоуглового рассеяния рентгеновского излучения (SAXSees mc2) при температуре от-30 до 120°С |
SAXSess mc2, Anton Paar, 2012 |
3500 |
1750 |
|
4 |
Электронно-микроскопические исследования на растровом электронном микроскопе (не менее 5 микрофотографий с разным увеличением) |
JEOL JS-6610LV, 2012 |
4000 |
2000 |
|
5 |
Электронно-микроскопический анализ на растровом электронном микроскопе с использованием детекторов вторичных электронов (не менее 5 микрофотографий с разным увеличением + микрофотографии в отраженных или вторичных электронах) |
JEOL JS-6610LV+ детекторы отражённых электронов и вторичных электронов Эверхарта-Торнли, 2012 |
9000 |
3000 |
|
6 |
Микрорентгеноспектральный анализ на растровом электроном микроскопе (не менее 5 микрофотографий с разным увеличением + микрофотографии с распределением элементов), 2012 |
JEOL JS-6610LV+системой энергодисперсионного (ЭД) микроанализа Oxford Instruments AzTecEnergy Package (не менее 10 микрофотографий с разным увеличением + |
9000 |
3000 |
|
7 |
Получение микрофотографий на оптическом конфокальном микроскопе с полным увеличением (оптическое увеличение и электронный зум) до 15000, 2009 |
АИСТ НТ |
300 |
1000 |
|
8 |
Атомно-силовые изображения с размерами объектов до 10 нм (не менее 5 изображений с программной обработкой структурных особенностей), 2009 |
АИСТ НТ |
3000 |
1500 |
|
9 |
Проведение атомно-силовых исследований с использованием различных методик (метод Кельвина, латеральных сил спектроскопии и других – по выбору) объектов с размерами вплоть до 10 нм (не менее 5 изображений с программной обработкой структурных особенностей), 2009 |
АИСТ НТ |
3000 |
1500 |
|
10 |
Сканирующая туннельная микроскопия проводящих материалов (не менее 5 изображений с программной обработкой структурных особенностей), 2010 |
АИСТ НТ |
3000 |
1500 |
|
11 |
Микроспектральный анализ материалов методом комбинационного рассеяния света с локализацией возбуждающего излучения в точку с диаметром 0.4 мкм и спектральным разрешением до 0.8 см–1, 2009 |
Omega Scope АИСТ НТ |
2500 |
2500 |
|
12 |
Микрокартирование поверхностей материалов по гиперспектральным данным с перемещением образца сканатором атомно-силового микроскопа, 2009 |
Omega Scope АИСТ НТ |
4000 |
800 |
|
13 |
Флуоресцентный микроскопический анализ материалов при возбуждении одним их лазерных источников с длиной волны 473, 532, 785 и с перемещением образца сканатором атомно-силового микроскопа, 2009 |
Omega Scope АИСТ НТ |
1000 |
500 |
|
14 |
Атомно-силовые изображения с размерами объектов до 10 нм (не менее 5 изображений с программной обработкой структурных особенностей) с использованием термостолика до 160°С, 2011 |
АИСТ НТ |
3500 |
3500 |
|
15 |
Магнито-силовая микроскопия распределений намагниченности (с латеральным разрешением не хуже 25 нм), 2011 |
АИСТ НТ |
3100 |
3100 |
|
16 |
Нанесение наномасштабных изображений при контактном силовом воздействии с разрешением до 20 нм на нетвердые материалы, 2010 |
АИСТ НТ |
4500 |
2250 |
|
17 |
Получение спектров поглощения материалов от ультрафиолетового (190 нм) до инфракрасного диапазона (1100 нм) |
Спектрофотометр СФ-200 Genesys 10S Bio |
1000 |
500 |
|
18 |
Инфракрасная спектроскопия материалов в ближнем, среднем и дальнем диапазонах, 2012 |
Nicolet iS50 |
1000 |
250 |
|
19 |
Наноидентирование материалов, 2013 |
Smart SPM АИСТ НТ |
1000 |
1000 |
|
20 |
Нанесение нанослоев металлов, карбидов и нитридов методом магнетронного распыления |
МВУ ТМ Магна НИИТМ |
10000 |
2500 |
|
21 |
Установка для получения монослоев методом Лэнгмюра-Блоджетт |
KSV Nima
|
8000 |
4000 |
|
22 |
Определение оптических параметров наноматериалов и толщины нанослоев |
ES-2LED |
3000 |
1500 |
|
23 |
Синтез углеродных нанотрубок методом каталитического пиролиза на подложках и сложных структурах |
CV DOMMA |
10000 |
2500 |
|
24 |
3D оптическая микроскопический анализ материалов |
Lyncee Tes SA |
8000 |
2000 |
|
25 |
4-зондовый анализ электрических потенциалов (с разрешением 5 мкм) с помощью атомно-силового микроскопа Aist-NT |
АИСТ НТ |
3000 |
1500 |
|
26 |
Подготовка поверхностей образцов с шероховатостью до 20 нм |
Buehler Vector LC |
6000 |
1500 |
|
27 |
Испытание нанопокрытий на износ |
МТУ-1, 2011 |
4000 |
1000 |
|
28 |
Анализ распределения субмикронных частиц по размерам |
Smart SPM АИСТ НТ |
1000 |
1000 |
|
29 |
Обработка и обсчет данных микрофотографий изображений (определение кол-ва фазы, размер зерна, протяженность границ зерен и т.д.) |
Smart SPM АИСТ НТ |
3500 |
1750 |
|
30 |
Определение механических характеристик (предела пропорциональности, предела упругости, предела текучести) при испытании на сжатие (по 3 образцам). Включает обмер и разметку образца. |
Lyncee Tes SA Smart SPM Omega Scope
|
3000 |
|